封装级芯片测试系统-老化测试系统-可靠性测试设备
S-PCTE-1000/3000-36 功率循环测试机
本系统适用于各种封装的半导体分立器件进行功率间歇寿命试验（IOL）、秒级﹙s﹚/分钟级﹙min﹚功率循环试验（Power Cycling）。
产品概述：本系统适用于各种封装的半导体分立器件进行功率间歇寿命试验（IOL）、秒级﹙s﹚/分钟级﹙min﹚功率循环试验（Power Cycling）。
引用标准：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...
适用器件：各种封装类型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模块
适用行业：军工电子、汽车电子、消费电子、轨道交通、半导体器件设计和封测企业
滤波器高温老炼检测系统（HTOL-能馈型）
产品概述：本系统适用于各种封装类型的滤波器在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL-能馈型）。
引用标准：GJB548、GJB2438、MIL-STD-883、MIL-M-28787...
适用器件：DC/DC、AC/DC
适用行业：军工电子、消费电子、半导体设计、封测企业...
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光电耦合器功率老炼检测系统（OP-Life）
产品概述：本系统适用于各种封装类型的光电耦合器在常温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（OP-Life）。
引用标准：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
适用器件：光电耦合器（单、双、四）
适用行业：军工电子、消费电子、半导体设计、封测企业...
光电耦合器高温老炼检测系统（HTOL）
产品概述：本系统适用于各种封装类型的光电耦合器在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL）。
引用标准：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
适用器件：光电耦合器（单、双、四）
适用行业：军工电子、消费电子、半导体设计、封测企业...
微波射频器件三温测试机（TEST）
本系统适用于各类射频器件高温、常温和低温下的性能测试，具备S参数测试、线性度测试、电源测试、噪声系数测试、相位噪声测试、矢量信号测试和射频时序测试功能。硬件上通过开关矩阵实现各种仪器、仪表的信号切换，软件上通过高精度快速测量算法、非理想负载校正算法、动态范围扩展算法实现无人员干预下全自动测试。本系统还具备了测试单元模组化、测试方案集成化和测试流程一体化的特点，以及载具修正、参数补偿、仪表性能扩展等多项技术，可全面提高测试精度和效率。
引用标准：SEMI SECS/GEM相关标准
Standards referenced：SEMI SECS/GEM related.
适用器件：滤波器、放大器、耦合器等射频器件
Applicable device：Radiofrequency devices likeWave filters, signal amplifiers, couplers, etc.
适用行业：军工电子、汽车电子、车轨交通、消费电子、半导体设计、封测企业...
Applicable industry：Military electronics、automotive electronics、consumer electronics、rail traffic、semiconductor device design、packaging and testing enterprises
老化测试机是一种专为模拟电子、机械或材料部件在长期使用中可能遭遇的应力条件而设计的测试设备。它通过模拟高温、高湿、振动等环境因素，评估产品的耐用性、可靠性和使用寿命，确保在正常使用条件下能稳定运行。此测试过程对提升产品质量、预防故障及保障消费者安全具有重要意义。
