大庆丝熔断特性测试仪ZA-329V锐科操作说明智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器，用于管熔断时间、熔断电流的检测，满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置，采用ARM控制器进行控制采集，试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便，智能可靠等特点。
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项目 |
要求及指标 |
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输入电压范围 |
220V±10﹪，50Hz/60Hz |
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测试电流范围 |
0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs |
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测试开路电压精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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试验模式 |
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2 |
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测试时间范围
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M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围：10mS--100小时 |
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耐久性时间设置 |
0~99H59M |
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次数设置 |
0~9999次 |
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时间分辨率 |
10ms |
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测试电流步 |
50mA~1A，可设置 |
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测试电流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’为设置数值）， M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’为设置数值） |
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测试时间精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值）， M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值） |
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显示方式 |
7 寸触摸屏显示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能，免费开放通信接口及提供底层通信协议 |
差模干扰在两根信号线之间传输，属于对称性干扰。2干扰的产生在仪表系统中，常用的信号制是4～20mADC或1～5VDC。被测量量先被转换成毫安或毫伏信号，由于二次仪表距离现场较远，传输到控制系统处的，除了有用的信号外，经常还有一些与测量信号无关的电压或电流存在，这就是干扰。干扰形成有3个环节：干扰源；对干扰敏感的接收电路；干扰的传输途径。切断任何一个环节就会消除干扰。干扰的主要引入方式有以下几种。其主要功能是用于检测电容充电完毕后u的漏电流指标。检测指标合格后，电容样品将被安全放电并流向后道包装环节，而测试不通过的样品则被筛选出来另作处理。在电容生产过程中，采用的电容老化测试设备是否地检测出产品性能至关重要。如果对u的漏电流指标测试精度不达标，可能会导致部分不合格产品流入后道成品中，降低电容产品的大批量可靠性。若将指标调节过于苛刻，将导致生产过程中部分合格产品被误判为失效，造成不必要的报废损失，降低经济效益。
