衢州管熔断测试仪ZA-327C锐科使用方法智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器,用于管熔断时间、熔断电流的检测,满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置,采用ARM控制器进行控制采集,试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便,智能可靠等特点。
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项目 |
要求及指标 |
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输入电压范围 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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测试电流范围 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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测试开路电压精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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试验模式 |
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2 |
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测试时间范围
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M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围:10mS--100小时 |
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耐久性时间设置 |
0~99H59M |
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次数设置 |
0~9999次 |
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时间分辨率 |
10ms |
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测试电流步 |
50mA~1A,可设置 |
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测试电流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’为设置数值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’为设置数值) |
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测试时间精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值) |
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显示方式 |
7 寸触摸屏显示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能,免费开放通信接口及提供底层通信协议 |
尤其在使用高速数据网络时,拦截大量信息所需要的时间显著低于拦截低速数据传输所需要的时间。数据双绞线中的绞合线对在低频下可以靠自身的绞合来抵抗外来干扰及线对之间的串音,但在高频情况下(尤其在频率超过250MHz以上时),仅靠线对绞合已无法达到抗干扰的目的,只有才能够抵抗外界干扰。电缆层的作用就像一个法拉第护罩,干扰信号会进入到层里,但却进入不到导体中。数据传输可以无故障运行。由于电缆比非电缆具有较低的辐射散发,因而防止了网络传输被拦截。Mentor嵌入式多核框架能消除异构硬件和软件环境的管理复杂性,从而简化SoC系统设计异构多处理对于当今的嵌入式应用来说正变得越来越重要。片上系统(SoC)架构,赛灵思的ZynqUltraScale+MPSoC提供包含四个ARMCortex-A53内核以及两个ARMCortex-R5内核的强大异构多处理基础架构。除了核心的计算基础架构外,SoC还包含一系列丰富的硬化外设IP和FPGA架构,可实现灵活的设计模式,从而帮助系统开发人员创建高性能多处理系统。