熔断器测试仪500A-0.2级ZA-290D中岸操作说明智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器，用于管熔断时间、熔断电流的检测，满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置，采用ARM控制器进行控制采集，试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便，智能可靠等特点。
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项目 |
要求及指标 |
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输入电压范围 |
220V±10﹪，50Hz/60Hz |
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测试电流范围 |
0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs |
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测试开路电压精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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试验模式 |
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2 |
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测试时间范围
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M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围：10mS--100小时 |
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耐久性时间设置 |
0~99H59M |
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次数设置 |
0~9999次 |
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时间分辨率 |
10ms |
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测试电流步 |
50mA~1A，可设置 |
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测试电流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’为设置数值）， M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’为设置数值） |
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测试时间精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值）， M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值） |
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显示方式 |
7 寸触摸屏显示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能，免费开放通信接口及提供底层通信协议 |
文中尝试通过谐振电路改变传感器的输出信号，从信号源头增大传感器灵敏度。这种方法相当于对传感器本身进行改进，使得它还可以与其他改进如：传感器激励源、输出信号处理、计算机软件补偿等兼容以共同提高整个系统的性能。改进后电路的模型建立1.1半桥式改进电路如果没有C1和C2为普通半桥电路，虚线框中为电感传感器的等效电路，传感器测头的位移带动螺线管中铁芯上下移动，从而改变上下两个线圈的电感值。将两线圈等效成纯电阻和纯电感的串联，如图中R1和L1组成上线圈，R2和L2组成下线圈，输出接在上线圈上。如果采用CCD或是CMOS，需要加上y（A）滤光镜校正，采用数码相机，则主要是对数码相机相应的像素进行校正。入射至CCD.CMOS或数码相机的光柱在感光器件上形成光斑，CCD.CMOS或数码相机内部的设定程序会用事先标定好的公式对多幅光斑图像进行测算，推算出LED发出的光在空间分布的色度。亮度数据，LED也通过步进马达控制，可以完成±5℃和±10℃偏转，从而得到不同偏转角度的光斑，从而可以对LED中心光强的分布进行修正。
