ZA-322T中岸丝熔断特性测试仪电流200A可定制生产厂家智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器，用于管熔断时间、熔断电流的检测，
满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。
本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置，采用ARM控制器进行控制采集，试验电流高达200A的试验设备。
具有操作简便，智能可靠等特点。
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项目 |
要求及指标 |
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输入电压范围 |
220V±10﹪，50Hz/60Hz |
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测试电流范围 |
0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs |
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测试开路电压精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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试验模式 |
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2 |
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测试时间范围
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M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围：10mS--100小时 |
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耐久性时间设置 |
0~99H59M |
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次数设置 |
0~9999次 |
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时间分辨率 |
10ms |
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测试电流步 |
50mA~1A，可设置 |
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测试电流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’为设置数值）， M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’为设置数值） |
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测试时间精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值）， M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值） |
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显示方式 |
7 寸触摸屏显示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能，免费开放通信接口及提供底层通信协议 |
如果套管内部存在缺陷，也可能导致套管异常发热。在这种情况下，发生故障套管的整体温度一般较其他正常的两相高（如下图红外热像仪应用在套管上）。如果套管内部或外部接头存在接触不良，或接点被氧化腐蚀，也可能导致套管接触点温度异常。在这种情况下，发生故障套管接触点就会表现出触点的温度明显高于其他正常的点或线路或套管。变压器套管热缺陷的红外热像仪应用检测依据根据DL/T664-20089.1电流致热型设备的判断：套管将帽与外部接线板或内部导电杆接触不良是电流致热故障，判断依据如下：套管内部存在缺陷的情况比较复杂：有可能是电压致热故障所引起的，也有可能是套管机械损伤造成的。也就是说，只要振铃、过冲和地电平反弹不导致逻辑跳变，那么这些模拟特点对MSO就不是问题。与逻辑分析仪一样，MSO使用门限电压，确定信号是逻辑值高还是逻辑值低。MSO4系列可以为每条通道立设置门限，适合调试带有混合逻辑家族的电路。MSO4在其中一个数字适配夹上测量五个逻辑信号，它同时测量三个TTL(晶体管-晶体管逻辑)信号和两个LVPECL(低压正发射器-耦合逻辑)信号。MSO2和MSO3系列则为每个适配夹设置门限(一组8条通道)，因此TTL信号将位于个适配夹上，而LVPECL信号则位于第二个适配夹上。
