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为解决这些挑战，新模块在提供电压和测量电流时，支持的电缆长度和连接电容都要超过传统SMU。4201-SMU和4211-SMU是为采用长电缆、开关矩阵、通过栅极接触卡盘及其他夹具的测试装置门设计的。这就让研究人员和制造测试工程师节省了大量的时间和成本，而这些时间和成本本来可以花费在故障排除和重新配置测试设置上。“因为要降低电流来节省能耗，精细测试装置所产生的高负载电容正成为一个日益严重的问题。在测试智能手机或平板电脑采用的大型LCD面板时，就面临着同样的问题。众所周知测试LED光通量在CIE121：1966Clause6.CIE127-2007Clause6.2和IES-LM-79-08Clause9.0都有提到两种测试方法：一种是采用积分球加光度计或光谱辐射计测试的积分法，这个是总光通量的相对测量方法（CIE121：1966Clause6.1.CIE127-2007Clause6.2.2和IES-LM-79-08Clause9.0）；另外一种是采用分布光度计的光度法，这个是总光通量的测量方法。
