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不需要“先进”数字测试性能；但对于测试灵活性和功能的需求较大的情况，高速数字模块则尤其重要。测试系统和相关的数字子系统可以支持传统和当代电子组件组合的测试，因为这种测试系统被广泛用于现场服务产品以及在工厂中测试新代产品。更具体地说，现场部署的测试系统（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限制—要求系统具有便携式，并且具有高可靠性。：VIPER/T测试系统数字子系统相关的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每个引脚的时序，多个时间集和灵活的定序器。从应用的角度来看，虽然一些性能无法测试，但可根据规格书极限测试条件测试电源稳定可靠性，如电压、温度、负载等；也可根据规格书如推荐电路，测试模块浪涌抗扰度、静电抗扰度、脉冲群抗扰度等；还可测试模块持续短路、重复开关机等。推荐电路当然，这些测试本身属于破坏性的，会造成模块一定的损伤，测试完后不应再使用在产品上。容性负载和过流保护电源容性负载能力越大，常意味着限流点设置较高。在开机和输出短路时通常导致较高的电应力，甚至使变压器饱和。
