后说到的频谱分析仪通常用在射频域，来观察和分析被测信号的频域特性，而我们常用其配合近场来扫描电磁干扰的功率峰值以及找到其对应的频点，初步判定辐射源属性。眼看上去这三种仪器用途各不相同，但其实都可以用来测试晶体振荡电路的频率。如果使用示波器或者频率计，配合无源电压点测芯片的时钟输入引脚，就可以测量到频率，如下是各部分的电路结构：其中：CC2是晶体的负载电容，影响到频率、负性阻抗等电路参数RC3是无源电压的电路参数，R3是9Mohm，C3是几个F不等R是示波器或者频率计输入通道的等效阻抗和电容，R4是1Mohm，是几十F不等如果使用频谱分析仪，配合近场靠近晶体封装外壳就可以探测到辐射功率峰值的频率，这个频率也是晶体电路的振荡频率。带宽决定了数字示波器对信号的基本测量能力。随着信号频率的增加，数字示波器对信号的准确显示能力下降。实际测试中我们会发现，当被测信号的频率与数字示波器带宽相近时，数字示波器将无法分辨信号的高频变化，显示信号出现失真。：频率为100MHz、电压幅度为1V的信号用带宽为100MHz的数字示波器测试，其显示的电压只有0.7V左右。为同一阶跃信号用带宽分别为4GHz、1.5GHz和300MHz的数字示波器测量所得的结果。
