使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室制备液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；组装成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。低功耗、高速度、高集成度的LSI电路是成众多电子产品的要考虑，这也就导致装置比以往任何时候更容易受到电磁干扰的威胁。此外，大功率家电及办公自动化设备的增多，以及移动通信、无线网络的广泛应用等，又大大增加了电磁骚扰源。这些变化迫使人们把电磁兼容作为重要的问题加以关注。电磁兼容采用一定的手段，使同一电磁环境中的各种电子、电气设备都能正常工作，并且不干扰其他设备的正常工作，这就是电磁兼容（ElectromagneticComatibility，缩写为EMC)。
使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室制备液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；组装成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。低功耗、高速度、高集成度的LSI电路是成众多电子产品的要考虑，这也就导致装置比以往任何时候更容易受到电磁干扰的威胁。此外，大功率家电及办公自动化设备的增多，以及移动通信、无线网络的广泛应用等，又大大增加了电磁骚扰源。这些变化迫使人们把电磁兼容作为重要的问题加以关注。电磁兼容采用一定的手段，使同一电磁环境中的各种电子、电气设备都能正常工作，并且不干扰其他设备的正常工作，这就是电磁兼容（ElectromagneticComatibility，缩写为EMC)。
